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> Elektronik-Entwicklung > Test- und Prüfkonzepte

 

Test- und Prüfkonzepte

Die Automatische Optische Inspektion komplexer elektronischer Baugruppen ist nicht als einziges Testverfahren ausreichend, um vorgegebene Eigenschaften feststellen und garantieren zu können.

Die CAD-UL-Ingenieure entwickeln deshalb Prüf- und Testkonzepte, die auf die besonderen Eigenschaften der Baugruppen und die zu produzierenden Stückzahlen ausgerichtet sind bzw. sie berücksichtigen während der Entwicklung einer Baugruppe das optimale Prüf- und Testkonzept.

Neben Testverfahren wie In-Circuit-Test, Flying Probe und produktspezifischen elektrischen Funktionstests wird zunehmend Boundary Scan als Prüfverfahren eingesetzt.

 

Vorteile des Boundary-Scan-Verfahrens:
  • Sowohl in der Prototypenphase als auch während der Serienbestückung einsetzbar
  • Verkürzung der Zeit für die Inbetriebnahme von komplexen Prototypen
  • Geringer Initialaufwand
  • Testprogramme sind in sehr kurzer Zeit erstellbar und können bei Design Änderungen einfach angepasst werden
  • Hohe Testabdeckung ohne mechanischen Zugriff auf die Baugruppe
CAD-UL setzt die Boundary-Scan-Testumgebung der Firma Göpel electronic GmbH ein. Testprogramme werden von
CAD-UL als Teilleistungen entwickelt oder sind Teil einer komplexen Entwicklungsleistung und werden in der Serienprüfung angewendet